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元器件单粒子效应激光试验
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基本信息
询价单名称: 元器件单粒子效应激光试验
询价单编号: ****
询价人名称: 胡艳
询价时间: 2026-10-28 19:59:29
询价人电话:
采购类型: 单次采购
采购企业: ****研究所
报价商品
| 1 | 元器件单粒子效应激光试验 | 高新技术服务/技术研发/技术研发 | 依据下文技术要求完成9种元器件单粒子效应激光试验，并出具对应试验的试验报告，元器件清单详见采购文件 技术要求 （一）性能参数要求。 1.整体试验应能满足《GJB10761-2022脉冲激光单粒子效应试验方法》相关试验要求。 2.具备开展SEL、SET、SEU等单粒子效应激光试验能力，可根据用户提供的样片换算等效LET值，激光等效LET值应可控制在1—120 MeV●cm2/mg之间；单粒子锁定效应阈值测试不确定度应≤25%。 3.具备电控三维移动台，应能满足SEL、SET、SEU等单粒子效应脉冲激光试验扫描辐照要求。 4.利用脉冲激光单粒子效应实验装置，从芯片正/背面**装进行激光辐照，诱发其产生单粒子效应。分别测得器件的单粒子效应阈值。 （二）测试报告要求。 1.依据《GJB10761-2022脉冲激光单粒子效应试验方法》开展试验。 2.应根据乙方要求，出具对应试验元器件数量的试验报告。 | 1年 | - | 依据技术要求完成9种元器件单粒子效应激光试验，并出具对应试验的试验报告，元器件清单详见采购文件 |
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